
小角X射线散射仪
Small Angle X-ray Scattering System
- 品牌:Xenocs SAS
- 型号:Xeuss 3.0 HR
- 产地:法国
- 启用日期:2024-07-23
- 学科领域:化学,药学,材料科学
仪器信息
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小角X射线散射仪
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Small Angle X-ray Scattering System
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分析仪器>X射线仪器>X射线衍射仪
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化学,药学,材料科学
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高亮度微焦斑固定Cu靶点光源;样品处最高X光通量> 500 M cps;光路准直系统准直类型为无散射狭缝准直系统,光斑大小在0.15-1.5 mm范围内实时、连续、自动改变;光路的真空度≤ 1 mbar ;配备开放式的超大样品室,兼容各类包括较大尺寸的原位样品台;样品腔具有与X射线光路同轴的相机可实时观察样品且不存在视差;单光子计数探测器最大计数率:≥ 6.8×10^8 phs/mm2;最小可测量散射矢量q_min≤0.01 nm-1;二维SAXS分析最大尺寸350nm以上,USAXS最大分析尺寸2um以上。
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主要用于研究各向异性纳米级结构取向和快速表征材料晶体结构,例如分子堆垛、晶粒取向、结晶度、物相变化等,可对多种类型材料,如溶液、聚合物、生物大分子、胶体、液晶、粉末、薄膜、纤维和纳米复合材料等,表征从近原子级到近数百纳米范围亚微观结构和形态特征,获取材料体相中统计意义结构信息。
服务信息
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广泛应用于高分子、纳米粒子和胶体、食品、能源材料等领域的纳米形态/结构表征
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收费标准:固体/粉末/薄膜400元/个;液体600元/个;非常规测试和数据分析面议。
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需提前预约
联系方式
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化学化工学院
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郭黛苹
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13400635358
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dpguo@xmu.edu.cn