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热场发射扫描电子显微镜

热场发射扫描电子显微镜

SU 70 Field Emission Scanning Electron Microscope

品牌:日本株式会社日立高新技术那珂事务所
型号:SU-70
产地:日本
启用日期:2013-10-12
学科领域:物理学,化学,材料科学
仪器信息
热场发射扫描电子显微镜
SU 70 Field Emission Scanning Electron Microscope
分析仪器>电子光学仪器>扫描电镜
物理学,化学,材料科学
电子枪类型:ZrO/W肖特基场发射电子枪 放大倍数:25倍至800,000倍 极限分辨率:1.0 nm 加速电压:0.5~30 kV可调 透镜系统:三级电磁线圈 光阑系统:带有自清洁功能的可调节光阑
日立SU 70型电镜集成了广受好评的S-4800的半内透镜技术,可完成样品微观结构的高分辨观测;同时新设计的无外泄磁场观测模式能提供强大的探针电流,可以适应各种扩展分析的需求
服务信息
样品表面微观形貌 样品表面元素分析
每小时420元
用户须访问材料学院仪器设备共享服务平台管理系统(网址:http://cmlms.xmu.edu.cn/),并在系统上注册,加入对应的课题组之后,方可预约电镜。 上机申请一律实名,上机样品必须为低毒、弱磁性、无放射性、高熔点、稳定、干燥的固体样品,并且须告知管理员样品组分。用户如未经培训,或经过培训但操作不熟练,须由经过培训且操作熟练的其他用户代为完成上机或指导上机。用户经过培训且操作熟练,可独立完成上机。
联系方式
材料学院
林陶然
13515968248
santiagoltr@xmu.edu.cn