低能离子散射能谱仪

低能离子散射能谱仪

Low Energy Ion Scattering (LEIS)

分析仪器>X射线仪器>X射线能谱仪

化学

离子源：He、Ne、Ar 能量分析器：双曲面能量分析器，散射角度145° 检测范围：原子序数大于He的所有固体样品元素； 检测限：轻元素2％单层，重元素0.1%单层 定量：标准样品参比法

1.着重于检测固体（含粉末、绝缘体等）最表面一个原子单层组成和各元素百分含量，如纳米粒子、催化剂表面组份和活性组份的分散。 2.具有样品影像扫描功能。 3.具有深度剖析功能，可做样品深度剖析，检测样品的深度分布。 4.适用于研究合金表面的分凝及吸附等现象 5.可用于样品表面缺陷分析

1.着重于检测固体（含粉末、绝缘体等）最表面一个原子单层组成和各元素百分含量，如纳米粒子、催化剂表面组份和活性组份的分散。 2.具有样品影像扫描功能。 3.具有深度剖析功能，可做样品深度剖析，检测样品的深度分布。 4.适用于研究合金表面的分凝及吸附等现象 5.可用于样品表面缺陷分析

LEIS深度溅射分析（XPS 联用或不同气氛温度预处理根据情况另外收费）:2500元/样 LEIS常规检测（XPS 联用或不同气氛温度预处理根据情况另外收费））:2000元/样

全开放，优先本单位用户测试