
发射扫描电子显微镜
SEM
- 品牌:蔡司
- 型号:SUPRA 55
- 产地:德国
- 启用日期:2014-08-13
- 学科领域:材料科学,电子与通信技术,航空、航天科学技术
仪器信息
-
发射扫描电子显微镜
-
SEM
-
分析仪器>电子光学仪器>扫描电镜
-
材料科学,电子与通信技术,航空、航天科学技术
-
1、分辨率:0.8nm@15kV,1.6nm@1kV,2.0nm@30kV(VP mode)。2、放大倍数:12~1,000,000×。 3、加速电压:0.02 ~30kV。 4、探针电流:4pA~20nA(12pA~100nA可选)。 5、样品室:Φ330mm×270mm。 6、样品台:五轴优中心全自动型,X = 130mm,Y = 130mm,Z = 50mm,T=-3to70°,R=360°连续旋转。 7、系统控制:基于Windows的SmartSEM操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控制。可实现电子束光刻,芯片尺寸10*10 mm, 光刻最小尺寸30 nm。
-
适用于各种样品的微观形貌观察和分析,结合EDS能谱仪可进行样品微区成分定性和定量以及元素分布分析,可实现电子束光刻,芯片尺寸10*10 mm, 光刻最小尺寸30 nm。
服务信息
-
用于各种样品的微观形貌观察和分析,结合EDS能谱仪可进行样品微区成分定性和定量以及元素分布分析,可实现电子束光刻,芯片尺寸10*10 mm, 光刻最小尺寸30 nm。
-
300元/小时
-
7天24小时对外预约开放;可经培训后自主操作,按机时收费。
联系方式
-
萨本栋微米纳米科学技术研究院
-
郑玲玲
-
15259242803
-
zhengll@xmu.edu.cn