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半导体参数测试系统

半导体参数测试系统

品牌:吉时利仪器公司
型号:4200-SCS/F
产地:中国
启用日期:2005-04-04
学科领域:自然科学
仪器信息
半导体参数测试系统
工艺实验设备>电子工艺实验设备>电真空器件工艺实验设备
自然科学
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服务信息
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化学化工学院
刘川
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