扫描探针显微镜
无
- 品牌：SII Nano Technology Inc.
- 型号：SPA-400
- 产地：日本
- 启用日期：2007-12-31
- 学科领域：物理学,材料科学,电子与通信技术
仪器信息
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扫描探针显微镜
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分析仪器>显微镜及图像分析仪器>扫描探针显微镜
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物理学,材料科学,电子与通信技术
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标准扫描器20um×20um最大可扫描面积，垂直方向行程±1um，可测试原子级台阶像；样品尺寸：直径不超过35mm，高度不超过10mm
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大气环境下半导体材料样品表面纳米尺度的三维形貌观测，表面粗糙度分析等
服务信息
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材料表面形貌纳米级成像观测分析
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200元/小时
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预约使用，按机时收费，其他规定详见仪器预约和使用指南，或提前联系仪器管理员咨询。
联系方式
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物理科学与技术学院
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林鼎渠
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13606949732
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lindq@xmu.edu.cn
