扫描电子显微镜

二次电子分辨率：1.0 nm(15 kV)；X射线能谱仪的元素分析范围为Be4~U92。

该电镜的电子发射源为冷场，物镜为半浸没式。在高加速电压（15 kV）下，S-4800的二次电子图像分辨率为1 nm，这是目前半浸没式冷场发射扫描电镜所能达到的最高水平。该电镜在低加速电压（1 kV）下的二次电子图像分辨率为2 nm，这有利于观察绝缘或导电性差的样品。S-4800的主要附件为X射线能谱仪。利用S-4800和X射线能谱仪可以在观察样品表面微观形貌的同时进行微区成分定性和定量以及元素分布分析。此次所购X射线能谱仪的元素分析范围为Be4~U92，从而可以分析轻元素。

新材料

客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。